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2024/03/14
CIS-500 顯微鏡光阻劑膜厚測量儀
CIS-500顯微鏡光譜干涉膜厚測量儀是利用薄膜干涉原理測量產品的厚度，適用於光阻劑厚度測量，厚度測量可以同時測單層或兩到三層膜厚度。
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