德國KIS v300E是目前市場性價比最高、掃描最快的超音波掃描顯微鏡(Scanning Acoustic Microscopy，SAM)，超音波穿透不同密度物質時，會產生不同強度的反射回波，KSI v300E利用超音波該特性，將收到反射的回波訊號轉換成圖像，再用圖像來檢測材料表面或內部是否有離層(Delamination)、空洞、裂縫、雜質異物、傾斜等缺陷，同時也會將缺陷自動著色，方便檢測人員辨識及缺陷分析。KSI v300E除了提供反射式檢測模式，也針對特殊缺陷檢測的需求，提供穿透式檢測模式。 KSI v300E非常適用於IC晶片封裝以及PCB產品的缺陷檢測，同時也可以用於高功率元件IGBT、紅外線元件、光電感光元件、SMT貼片元件、MEMS、複合材料、超導材料、鍍膜等產品。KSI v300E提供多種掃描方法及 200多種的探頭(Transducer)，掃描方法有點波形(A-Scan)、 縱剖掃描(B-Scan)、橫剖掃描(C-Scan)、多層橫剖掃描(G-Scan)、等間隔多層橫剖掃描(X-Scan)、穿透掃描(TT-Scan)、托盤掃描(Tray-Scan)、全像掃描((Z-Scan)。超音波探頭移動掃描時，會產生氣泡而影響檢測結果，KSI v300E提供專利技術的菱型防氣泡探頭，可減少氣泡的產生及附著在探頭上。